英國abi-AT256 A4 pro2集成電路測試儀
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產(chǎn)品型號:AT256 A4 pro2
產(chǎn)品代碼:
產(chǎn)品價格:
折 扣 率: 0
最后更新:2022-09-24
關 注 度:6826
生產(chǎn)企業(yè):北京金三航科技發(fā)展有限公司
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產(chǎn)品詳細介紹二維集成電路專用V-I動態(tài)阻抗端口測試通道:256路 二維電路板專用V-I動態(tài)阻抗端口測試通道:128路(最大可擴充至2048路) 三維掃頻V-I-F動態(tài)阻抗端口測試通道:128路(最大可擴充至2048路)
功能用途: 1)集成電路的來料質(zhì)量控制檢測與篩選、一致性檢測; 2)快速篩選假冒、仿制集成電路及元器件; 3)對不良器件進行三維動態(tài)阻抗失效分析; 4)非加電條件下對集成電路、電路板進行全面的端口動態(tài)阻抗測試分析; 5)快速準確定位失效集成電路故障管腳,高效查找故障電路板的失效I/O管腳; 6)測試安全可靠,全面解決器件工藝、電路板工藝問題,快速解決集成電路及電路板故障點定位問題; 7)進行集成電路和電路板阻抗一致性檢測; 8)配合專用測控平臺軟件,實現(xiàn)集成電路、電路板定制化和自定義編程測試。 9)設備可以64通道為步進最大擴充到2048組測試通道。
技術規(guī)格: 1)256路二維集成電路專用V-I端口動態(tài)阻抗測試通道; 2)128路二維電路板專用V-I端口動態(tài)阻抗測試通道; 3)128路V-I-F三維立體動態(tài)阻抗測試通道; 4)4路探筆測試,4路V-T/V-T-F測試通道; 5)顯示圖形模式:V-I, V-T, V-I-F, V-T-F; 6)可定制各種封裝通用集成電路測試治具; 7)可定制各種電路板I/O接口測試治具; 8)系統(tǒng)提供測試自定義報告輸出;中英文專用測試操作軟件;
測試原理(V-I曲線測試): 對元器件的每個管腳施加一個安全的低功率的掃描驅(qū)動信號,產(chǎn)生一個阻抗特征圖,以備對比和存儲。 被測器件和數(shù)據(jù)庫中標準動態(tài)阻抗圖相比對,阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。 測試信號可設定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率。可根據(jù)需要進行調(diào)整以便得到準確的信息。
集成電路測試操作如此簡單: 1.從數(shù)據(jù)庫選擇要測試的集成電路型號. 2.將集成電路插入測試座. 3.執(zhí)行測試 4.得到PASS或FAIL的測試結(jié)果.
不需要電子專業(yè)知識. 適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板. 靈活、好安裝、宜操作. 測試結(jié)果直接: PASS或FAIL. 軟件可設定各種測試條件. 可提供完整的集成電路自定義測試分析報告.
英國ABI-AT256 pro2全品種集成電路測試儀適合不同封裝形式的元件: -雙列插腳(DIL) -小型封裝集成集成電路(SOIC) -小型封裝(SSOP, TSOP) -塑料無引線芯片載體封裝(PLCC) -四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP) -球門陣列封裝(BGA) 注意: AT256 A4 pro2不受限于只能測試電子集成電路, 也可用于整個電路板的測試。
三維立體V-I-F動態(tài)阻抗端口測試 英國abi-集成電路測試儀,AT256 A4 pro2,三維V-I-F動態(tài)阻抗測試圖
AT256 A4 pro2測試報告 英國abi-集成電路測試儀,AT256 A4 pro2,測試報告
AT256 A4 pro2集成電路測試儀 二維集成電路專用V-I動態(tài)阻抗端口測試通道:256路 二維電路板專用V-I動態(tài)阻抗端口測試通道:128路(最大可擴充至2048路) 三維掃頻V-I-F動態(tài)阻抗端口測試通道:128路(最大可擴充至2048路)
北京金三航科技發(fā)展有限公司(英國ABI技術服務中心)提供: 集成電路測試儀,集成電路篩選測試儀,元器件篩選測試儀,元器件檢測儀,三維立體動態(tài)阻抗測試儀的使用技術培訓服務,測試程序開發(fā)編譯服務,咨詢電話: 010-82573333.
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