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探頭




量程




低端
分辨率




誤差




最小曲率
半徑(凸/凹)




最小測量
區(qū)域直徑




最小基
體厚度




探頭尺寸








應(yīng)



















F05




0-500μm




0.1μm




±(1%±0.7μm)




1/5mm




3mm




0.2mm




φ15x62mm






F1.6




0-1600μm




0.1μm




±(1%±1μm)




1.5/10mm




5mm




0.5mm




φ15x62mm






F1.6/90




0-1600μm




0.1μm




±(1%±1μm)




平面/6mm




5mm




0.5mm




φ8x170mm






F3




0-3000μm




0.2μm




±(1%±1μm)




1.5/10mm




5mm




0.5mm




φ15x62mm






F10




0-10mm




5μm




±(1%±10μm)




5/16mm




20mm




1mm




φ25x46mm






F20




0-20mm




10μm




±(1%±10μm)




10/30mm




40mm




2mm




φ40x66mm






F50




0-50mm




10μm




±(3%±50μm)




50/200mm




300mm




2mm




φ45x70mm
















FN1.6




0-1600μm




0.1μm




±(1%±1μm)




1.5/10mm




5mm




F0.5mm
N50μm




φ15x62mm






FN1.6P




0-1600μm




0.1μm




±(1%±1μm)




平面




30mm




F0.5mm
N50μm




φ21x89mm






FN2




0-2000μm




0.2μm




±(1%±1μm)




1.5/10mm




5mm




F0.5mm
N50μm




φ15x62mm
































N02




0-200μm




0.1μm




±(1%±0.5μm)




1/10mm




2mm




50μm




φ16x70mm






N.08Cr




0-80μm




0.1μm




±(1%±1μm)




2.5mm




2mm




100μm




φ15x62mm






N1.6




0-1600μm




0.1μm




±(1%±1μm)




1.5/10mm




2mm




50μm




φ15x62mm






N1.6/90




0-1600μm




0.1μm




±(1%±1μm)




平面/10mm




5mm




50μm




φ13x170mm






N10




0-10mm




10μm




±(1%±25μm)




25/100mm




50mm




50μm




φ60x50mm






N20




0-20mm




10μm




±(1%±50μm)




25/100mm




70mm




50μm




φ65x75mm






N100




0-100mm




100μm




±(1%±0.3mm)




100mm/平面




200mm




50μm




φ126x155mm






CN02




10-200μm




0.2μm




±(1%±1μm)




平面




7mm




無限制




φ17x80mm




MiniTest1100,MiniTest1100
產(chǎn)品型號:MiniTest1100
產(chǎn)品代碼:
產(chǎn)品價格:
折 扣 率: 0
最后更新:2013-07-22
關(guān) 注 度:3184
生產(chǎn)企業(yè):上海鼎徵儀器儀表設(shè)備有限公司
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MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀功能 
 




型號



1100




2100




3100




4100





MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量 




應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))



1




1




10




99





每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計,可設(shè)寬容度極限值)



-




1




10




99





可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù)



-




1




500




500





數(shù)據(jù)總量



1




10000




10000




10000





MINITEST統(tǒng)計計算功能 




讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar



-




















讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk



-




-















組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar



-




-















組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk



-




-















存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)



-




-




-










分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值



-




-















顯示并打印測量值、打印的日期和時間



-




















其他功能 




透過涂層進行校準(CTC)



-
























在粗糙表面上作平均零校準
























利用計算機進行基礎(chǔ)校準
























補償一個常數(shù)(Offset)



-




-















外設(shè)的讀值傳輸存儲功能



-




















保護并鎖定校準設(shè)置
























更換電池是存儲數(shù)值
























設(shè)置極限值



-




-



















公英制轉(zhuǎn)換
























連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值



-




-



















連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)



-




-



















浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送
























組內(nèi)單值延遲顯示



-




















連續(xù)測量模式中顯示最小值




























產(chǎn)品詳細介紹

德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
所有型號均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
可使用一片或二片標準箔校準。





可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
 






注:


F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 





探頭圖示







FN1.6
0~1600μm,φ5mm
兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)









FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度










F05
0~500μm,φ3mm
磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)









F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)









F3
0~3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層









F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)









F10
0~10mm,φ20mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等










F20
0~20mm,φ40mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等 









F50
0~50mm,φ300mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層









N02
0~200μm,φ2mm
非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)









N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層









N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)









N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)









N10
0~10mm,φ50mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等









N20
0~20mm,φ70mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等









N100
0~100mm,200mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等








CN02
10~200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板







上海鼎徵儀器儀表設(shè)備有限公司
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