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產(chǎn)品型號：abi-3200
產(chǎn)品代碼：
產(chǎn)品價(jià)格：
折 扣 率： 0
最后更新：2023-06-13
關(guān) 注 度：6967
生產(chǎn)企業(yè)：北京金三航科技發(fā)展有限公司
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產(chǎn)品詳細(xì)介紹
abi-3200電路板維修測試儀是abi-3400的簡化版�？稍陟o態(tài)（非加電）條件下分析器件及整板測試。采用獨(dú)特的三維立體V-I-F動態(tài)阻抗測試方法, 測量電氣信號曲線, 偵測錯誤/瑕疵問題, 包含內(nèi)部損壞器件與不一致器件，增加問題檢測范圍, 同時(shí)減少測試時(shí)間！
產(chǎn)品組成：
1.軟件配置：
1）具有測試流程記憶功能（軟件具有強(qiáng)大的測試流程編輯和記錄功能）
2）*全面記錄各種測試信息。軟件可將標(biāo)準(zhǔn)電路板上測量到的V-I-F、V-I和V-T曲線圖都存儲記錄到測試程序中，方便隨時(shí)與其他電路板進(jìn)行對比，大大簡化了測試中需要重復(fù)對比的工作。
3）軟件在測試流程中允許用戶根據(jù)需要加入對測試步驟的文字說明、照片、Office Word、Office Excel、PDF文檔、網(wǎng)頁鏈接、視頻等，極大提升了測試效率。
4）*中文、英文測試操作軟件，提供免費(fèi)終生軟件的升級服務(wù)；
2.硬件配置：
1）具有32通道數(shù)字V-I動態(tài)阻抗測試（可擴(kuò)充到2048通道）。
2）*具有32路測試V-I-F和V-I測試通道，2路探棒測試，2組同步脈沖。具備變頻三維立體V-I-F測量方式，三維立體顯示器件的端口特性曲線�？梢圆檎遗c器件頻率有關(guān)的故障。三維畫面與二維畫面可以相互切換，可在二維圖面上顯示曲線各點(diǎn)的電氣參數(shù)值(V/I)：電壓、電流具體數(shù)值。最大擴(kuò)充到2048路V-I-F測試通道。
3）*系統(tǒng)可對各種器件進(jìn)行端口測試： V-I、V-T、V-I-F、V-T-F測試。二維V-I測試低達(dá)1Hz頻率，測試頻率高達(dá)10kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件。可設(shè)定同步脈沖信號的幅值與寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試。
特點(diǎn):
靜態(tài)診斷電路板, 不必外加電源即可進(jìn)行測試。
檢測電路板上受損器件。
可檢測出具有泄漏型故障的器件。
可檢測出不相同的器件。
將損壞風(fēng)險(xiǎn)降至最低。
通道最大可擴(kuò)充至2048路
何謂V/I曲線測試?
對于模擬及數(shù)字電路板, V/I曲線測試是成熟、可靠的解決方案。
透過一個(gè)限流電阻器, 施加AC電壓到一個(gè)測試點(diǎn)時(shí), 測量因此產(chǎn)生的電流, 并將結(jié)果繪制成一個(gè)電壓/電流圖形, 即顯示該測試點(diǎn)的特性曲線。
分析V/I曲線,通常是與一個(gè)參考點(diǎn)作比較,而檢測如下問題：
漏電流器件。
內(nèi)部受損器件。
錯誤數(shù)值的器件。
不一致的器件。
短路與開路。
變頻掃描方式---增加問題查找范圍!
abi-3200通過改變V/I信號的AC電壓的頻率, 而增加問題檢測范圍, 其產(chǎn)生的曲線, 繪制在一個(gè)3D窗口內(nèi), 能讓使用者觀察到整個(gè)頻率范圍上的V/I曲線變化, 進(jìn)而找到標(biāo)準(zhǔn)V/I分析方法看不見的問題。
矩陣式掃描V/I----- 增加問題查找范圍!
abi-3200模塊也可使用矩陣式掃描獲得V/I曲線, 而增加問題檢測范圍。在這個(gè)模式時(shí), abi-3200模塊是在參考所有其它有效管腳(不同于標(biāo)準(zhǔn)V/I測試中只有一個(gè)參考管腳)的情形下, 獲得一個(gè)器件或電路板每個(gè)管腳的V/I曲線。如此,便能產(chǎn)生豐富的數(shù)據(jù)組(一個(gè)20腳器件400條曲線), 足以檢測出最不易查找的故障。
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